CINDBEST CM-4 | 4 精密I-V測試測量探針臺系統
特點 / 應用
滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.
*大可用于6英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構，線性移動
可放置于手套箱內使用
形狀輕巧，操作方便，價格實惠
 
規 格
臺體：
尺寸：4英寸/6英寸
水平旋轉：可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程：2英寸*3英寸
X-Y移動精度：10微米
樣品臺Z軸調節：可升降10mm
樣品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環
針座平臺 ：U型針座平臺，*多可放置6個探針座
背電極測試：樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
外形尺寸 ：400mm長*380mm寬*500mm高
重量：約20千克
光學系統：
顯微鏡類型：單筒顯微鏡/體式顯微鏡
放大倍率：16X-200X
移動行程 ：水平方向繞立柱360度旋轉，Z軸50.8mm
光源：外置LED無極調節亮度環形光源
CCD：200萬像素/500萬像素/1200萬像素
定位器：
X-Y-Z移動行程：12mm*12mm*12mm
移動精度 ：10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式 ：磁力吸附/真空吸附
線纜：同軸線/三軸線
漏電精度 ：10pA/100fA/10fA
固定探針 ：彈簧固定/管狀固定
接頭類型 ：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑 ：0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質 ：鎢鋼/鈹銅

可選附件
加熱臺
顯示器
轉接頭
射頻測試配件
屏蔽箱
光學平臺
鍍金卡盤
光電測試配件
PS:探針臺可根據客戶要求定制。
規格及設計如有更改，恕不另行通知。
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